放置壽命  Shelf Life 

存儲5到10年以上的鋁電解電容可能會(huì )增加DC漏電流.在使用之前檢查DCL是否滿(mǎn)足應用的需要.經(jīng)過(guò)1,000Ω的電阻加上額定電壓30分鐘來(lái)重新限定高DCL個(gè)體的條件. 

存儲壽命是測量電容如何維持長(cháng)時(shí)間的存儲尤其在高溫下.為了測試存儲壽命,將電容放在一個(gè)爐中,設置存儲壽命測試溫度為-0+3℃作為存儲壽命測試周期.完成實(shí)驗在25℃下穩定電容24h或更長(cháng)時(shí)間.提供額定電壓30分鐘,確認測試后的限制值.如果沒(méi)有另外的指標,則電容量,DCL和ESR將滿(mǎn)足開(kāi)始的要求. 

(1) 在溫度為5~30℃,濕度為75%以下的室內儲存 

(2) 不要保存在組裝使用中禁用的環(huán)境及同等條件下 

電感

電感是等效串聯(lián)電感,對于溫度和頻率相對獨立.對于SMT典型值的范圍是從2到8nH,對于徑向引線(xiàn)的類(lèi)型其典型值的范圍是從10到30nH,對于螺絲端子的類(lèi)型其典型值的范圍是從20 nH到50nH,對于軸向引線(xiàn)的類(lèi)型其典型值高達200nH.這些低的值是通過(guò)制表區域和介質(zhì)接觸幾何學(xué)的固有的低的電感量所獲得的.電容元件具有小于2nH的典型的電感量.

CDE 電感的簡(jiǎn)單計算公式: ( 直徑/2) +5 <電感 (nH)<直徑-8;

絕緣和接地

非固態(tài)電解液鋁電解電容的鋁外殼通過(guò)與電解液接觸與負極相連.所產(chǎn)生的絕緣電阻從幾個(gè)歐姆到幾千個(gè)歐姆.對于軸向端子的電容和扁平組件封裝外殼與負極端子連接.如果同外殼接觸的器件有一定電平而不是負極端子,使用帶絕緣套的電容.料絕緣(UL224VW-1 )能承受3000Vdc或2500Vac,60Hz1分鐘,電壓加在外殼和一個(gè)1/4英寸寬圍繞絕緣套的金屬薄膜之間.給電容安裝上滿(mǎn)意的尼龍螺母和間隔孔.在薄膜和電容外殼之間加電100V 2分鐘以后,絕緣電阻不小于100MΩ.

平衡電阻 Balancing Resistors

在額定溫度時(shí),串聯(lián)的兩個(gè)電容漏電流的差異能被估計為0.0015CVr單位是uA,C是額定電容量單位是uF,Vb是通過(guò)兩個(gè)電容的電壓?jiǎn)挝皇荲dc.使用這種估計數值,使用下面的公式來(lái)為每個(gè)電容選取平衡電阻的值.;R=(2Vr-Vb)/(0.0015CVr);R使平衡電阻單位是MΩ,Vr是你想要加在每一個(gè)電容上的z大電壓,Vb是通過(guò)兩個(gè)電容的z大母線(xiàn)電壓.;對于三個(gè)或更多的電容串聯(lián)可使用下面的公式,n是串聯(lián)電容的個(gè)數:;R=(Vr-Vb/n)/(0.00075CVr);當兩個(gè)電容串聯(lián)時(shí),電壓的分配很少使用平衡電阻.在使用平衡電阻作為電壓放電以前,應考慮到不使用平衡電阻通常會(huì )增加系統的可靠性因為不使用平衡電阻可降低電容周?chē)臏囟?除去比電容可靠性低的元器件就意味著(zhù)保護.作為替代,使用相同生產(chǎn)的一批電容以確保相同的漏電流或使用更高的額定電壓以允許不同生產(chǎn)商的電容電壓的不均衡.確保串聯(lián)的電容有相同的熱的環(huán)境.